BIST (built-in self test) ; 내장 자체시험

BIST란 주 논리 회로의 동작이 적절한지를 시험하기 위해 이를 위한 부가적 논리 회로를 함께 설계하는 기술을 가리킨다. 자체 시험 회로를 내장하면 소요 면적이 커지는 등의 단점이 생기지만, 시험에 따른 복잡도가 크게 줄어들고 모듈별로 가장 적합한 시험이 가능하며 비싼 외부 시험 장치를 쓰지 않고서도 빠른 시간 내에 시험을 완료할 수 있는 등의 장점이 있다.


작성 : 02-08-15 수정 : 05-04-05
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